제조업체 제품 번호:
SN74BCT8374ADW
Product Overview
제조사:
Texas Instruments
부품 번호:
SN74BCT8374ADW-DG
설명:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
상세 설명:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
재고:
75 새로운 원본 재고 있음
1718307
견적 요청
수량
최소 1
최소 1
(*) 필수
24시간 이내에 답변드리겠습니다.
24시간 이내에 답변드리겠습니다.
제출
SN74BCT8374ADW 기술 사양
카테고리
논리, 전문 논리
제조사
Texas Instruments
포장
Tube
시리즈
74BCT
제품 상태
Active
로직 유형
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
공급량tage
4.5V ~ 5.5V
비트 수
8
작동 온도
0°C ~ 70°C
실장 형
Surface Mount
패키지 / 케이스
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급업체 장치 패키지
24-SOIC
기본 제품 번호
74BCT8374
데이터 시트 및 문서
데이터시트
추가 정보
다른 이름들
SN74BCT8374ADWE4-DG
SN74BCT8374ADWE4
-SN74BCT8374ADW-NDR
SN74BCT8374ADWG4
SN74BCT8374ADWG4-DG
296-33849-5
SN74BCT8374ADW-DG
표준 패키지
25
환경 및 수출 분류
RoHS 준수 여부
ROHS3 Compliant
수분 민감도 수준(MSL)
1 (Unlimited)
REACH 상태
REACH Unaffected
증권 시세 표시기
EAR99
(주)헤수스
8542.39.0001
DIGI 인증
관련 상품
SY58600UMG-TR
IC LINEDRIVER/RCVR CML DIFF 8MLF
SN74BCT8244ADWR
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
SN74GTLP22034GQLR
IC REG TXRX LVTTL-GTLP 56-BGA
